Introducción de la Unidad:

En la Unidad de Rayos X contamos con dos equipos, un difractómetro de rayos X de polvo y un difractómetro de rayos X, con la que es posible analizar diferentes tipos de muestras con estructura cristalina, así como otras muchas aplicaciones debido a la amplia versatilidad de los equipos y los accesorios presentes en los mismos.

Servicios y técnicas ofertados:

• Determinación de la estructura cristalina.
• Identificación de fases cristalinas.
• Determinación de la cristalinidad.
• Microdifracción y difracción de rayos X de muestras grandes (pletina X,Y,Z)
• Difracción de muestras en transmisión.
• Estudios de difracción en condiciones no ambientales (cámara de temperatura hasta 900 ºC).
• Dispersión y difracción de rayos X con bajo ángulo (SAXS) para nanomateriales.
• Análisis por incidencia rasante (GIXRD) para la determinación de fases cristalinas en las películas delgadas.
• Reflectometría (XRR), estudio de capas cristalinas y amorfas y determinación de espesores.