El Bruker Dimension Edge es un microscopio de fuerza atómica (AFM) de alto rendimiento diseñado para proporcionar imágenes de resolución nanométrica y caracterización de superficies en una plataforma de gran formato, destacando por su bajo nivel de ruido y mínima deriva térmica. Basado en la tecnología de la serie Dimension, este equipo incorpora el modo PeakForce Tapping con software ScanAsyst, el cual automatiza los parámetros de escaneo en tiempo real para obtener imágenes de alta calidad de forma sencilla, incluso para usuarios no expertos. Su diseño modular permite analizar muestras de hasta 150 mm de diámetro en diversos entornos (aire o líquido) y es compatible con una amplia gama de modos avanzados, incluyendo microscopía de fuerza magnética (MFM), eléctrica (EFM), nanomecánica cuantitativa y nanolitografía, lo que lo convierte en una herramienta versátil tanto para la investigación de materiales como para aplicaciones en semiconductores y ciencias de la vida.